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型號:ST-21
方塊電阻測試儀

描述:方塊電阻測試儀
專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

  • 廠商性質

    其他
  • 更新時間

    2024-09-14
  • 訪問量

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